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H82 元素半导体材料
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标准编号标准名称定价购买收藏
GB/T 6620-2009硅片翘曲度非接触式测试方法16.00购买收藏
GB/T 12962-2005硅单晶16.00购买收藏
GB/T 12963-2009硅多晶14.00购买收藏
GB/T 12963-2009硅多晶200.00购买收藏
GB/T 12964-2003硅单晶抛光片16.00购买收藏
GB/T 12965-2005硅单晶切割片和研磨片16.00购买收藏
GB/T 14140-2009硅片直径测量方法16.00购买收藏
GB/T 19199-2003半绝缘砷化镓单晶中碳浓度的红外吸收测试方法14.00购买收藏
GB/T 25074-2010太阳能级多晶硅14.00购买收藏
GB/T 26072-2010太阳能电池用锗单晶14.00购买收藏
DIN 50451-1-2003半导体工艺材料检验.液体中痕量元素测定.用原子吸收光谱...48.00购买收藏
DIN 50451-3-2003半导体工艺用材料测试.液体中痕量元素测定.第3部分:用...48.00购买收藏
DIN 50451-2-2003半导体工艺材料测试.液体中痕量元素测定.第2部分:用等...48.00购买收藏
DIN 50452-3-1995半导体工艺材料的检验.液体中颗粒分析的试验方法.第3部...36.00购买收藏
DIN 50452-1-1995半导体工艺用材料的检验.液体中粒子分析的试验方法.第1...24.00购买收藏
DIN 50453-1-1990半导体工艺材料的检验.蚀刻混合剂浸蚀率的测定.第1部分...18.00购买收藏
DIN 50453-2-1990半导体工艺材料的检验.蚀刻混合剂浸蚀率的测定.第2部分...12.00购买收藏
DIN 50456-3-1999半导体工艺技术用材料的试验.电子元件模塑化合物材料的特...12.00购买收藏
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