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H80 半金属与半导体材料综合
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标准编号标准名称定价购买收藏
YS/T 679-2008非本征半导体中少数载流子扩散长度的稳态表面光电压测试方...18.00购买收藏
GB/T 1551-2009硅单晶电阻率测定方法24.00购买收藏
GB/T 1553-2009硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法18.00购买收藏
GB/T 1554-2009硅晶体完整性化学择优腐蚀检验方法24.00购买收藏
GB/T 1555-2009半导体单晶晶向测定方法16.00购买收藏
GB/T 1558-2009硅中代位碳原子含量 红外吸收测量方法16.00购买收藏
GB/T 4058-2009硅抛光片氧化诱生缺陷的检验方法21.00购买收藏
GB/T 4061-2009硅多晶断面夹层化学腐蚀检验方法14.00购买收藏
GB/T 6616-2009半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测试方法 非接触涡流法16.00购买收藏
GB/T 6617-2009硅片电阻率测定 扩展电阻探针法16.00购买收藏
GB/T 6618-2009硅片厚度和总厚度变化测试方法16.00购买收藏
GB/T 6619-2009硅片弯曲度测试方法16.00购买收藏
GB/T 6621-2009硅片表面平整度测试方法14.00购买收藏
GB/T 6624-2009硅抛光片表面质量目测检验方法14.00购买收藏
GB/T 13387-2009硅及其它电子材料晶片参考面长度测量方法16.00购买收藏
GB/T 13388-2009硅片参考面结晶学取向X射线测试方法16.00购买收藏
GB/T 14139-2009硅外延片16.00购买收藏
GB/T 14141-2009硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的测定 直排四探针...16.00购买收藏
GB/T 14144-2009硅晶体中间隙氧含量径向变化测量方法16.00购买收藏
GB/T 14144-2009硅晶体中间隙氧含量径向变化测量方法600.00购买收藏
GB/T 14146-2009硅外延层载流子浓度测定 汞探针电容-电压法16.00购买收藏
GB/T 14264-2009半导体材料术语45.00购买收藏
GB/T 14847-2010重掺杂衬底上轻掺杂硅外延层厚度的红外反射测量方法16.00购买收藏
GB/T 24574-2009硅单晶中Ⅲ-Ⅴ族杂质的光致发光测试方法18.00购买收藏
GB/T 24575-2009硅和外延片表面Na、Al、K和Fe的二次离子质谱检测方...16.00购买收藏
GB/T 24576-2009高分辩率X射线衍射测量GaAs衬底生长的AlGaAs中...16.00购买收藏
GB/T 24577-2009热解吸气相色谱法测定硅片表面的有机污染物18.00购买收藏
GB/T 24578-2009硅片表面金属沾污的全反射X光荧光光谱测试方法18.00购买收藏
GB/T 24579-2009酸浸取 原子吸收光谱法测定多晶硅表面金属污染物18.00购买收藏
GB/T 24580-2009重掺n型硅衬底中硼沾污的二次离子质谱检测方法16.00购买收藏
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